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반도체 패턴 구조물의 정보 측정 및 분석 방법
박진구;
김태곤
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제목
반도체 패턴 구조물의 정보 측정 및 분석 방법
저자
박진구;
김태곤
발행일
2009-07-06
출원번호
10-2007-0097838
등록번호
0907456
출원일
2007-09-28
등록일
2009-07-06
발행국가
대한민국
지식재산권 유형
특허
양수인
한양대학교 에리카산학협력단
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