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Quantifying the Risk Level of Functional Chips in DRAM Wafers
- Jeong, Young-Seon;
- Kim, Byunghoon;
- Tong, Seung Hoon;
- Chang, In-Kap;
- Jeong, Myong K.
Citations
WEB OF SCIENCE
0- 제목
- Quantifying the Risk Level of Functional Chips in DRAM Wafers
- 저자
- Jeong, Young-Seon; Kim, Byunghoon; Tong, Seung Hoon; Chang, In-Kap; Jeong, Myong K.
- 발행일
- 2015-11
- 권
- 30
- 호
- 6
- 페이지
- 21 ~ 24
- 언어
- ENG
- 출판사
- Institute of Electrical and Electronics Engineers
- 발행국가
- 미국
- 분량
- 4 페이지
- ISSN
- E 1941-1294
P 1541-1672