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메모리 뱅크 기반 불량 검출 기술

Defect Inspection Using Memory Bank Based Anomaly Detection

제목: 메모리 뱅크 기반 불량 검출 기술

제목 (타언어): Defect Inspection Using Memory Bank Based Anomaly Detection

저자: 박태준; 윤종완; 고병진; 이승재

발행일: 2024-10-31

출원번호: C-2024-039589

등록번호: C-2024-039589

출원일: 2024-10-31

등록일: 2024-10-31